Analiz

Minerolojik Analiz

MİNEROLOJİK ANALİZ

X Işınları Difraksiyonu (XRD)

X-ışınları laboratuvarında XRD (X-Işınları Kırınım Cihazı) ve HT-XRD (Yüksek Sıcaklık X-Işınları Kırınım Cihazı) olmak üzere iki farklı XRD bulunmaktadır. Bu cihazlarda farklı özellikler tespit edilebilmekle birlikte, temel işlevleri ortaktır. X-ışınları kırınım yöntemi kütle veya toz halindeki malzemelerin, kristalin malzemelerin karakterizasyonunda kullanılan temel tekniklerden biridir. Numune üzerine gönderilen dalga boyu bilinen x-ışınları farklı açılarda Bragg kanununa göre malzemedeki düzlemler tarafından kırınıma uğratılır. Bu yöntemle elde edilen paternler her bir faz için parmak izi niteliğinde olup, malzeme içerisinde bulunan fazların tayinini sağlar. XRD ile analizde, malzeme yapısı (kristalin/amorf), kristalin malzemeler için kalitatif mineralojik analiz, latis parametresinin hesaplanması, kristal yapısının belirlenmesi, nanomalzemelerde tane boyutu ölçümü belirlenebilecek özelliklerdir. Uygun paket programların kullanılmasıyla kantitatif olarak mineralojik analiz yapılabilmektedir. Bu tahribatsız analiz yöntemi malzeme bilimi, jeoloji gibi değişik alanlarda yaygın bir kullanıma sahiptir. HT-XRD cihazında farklı olarak yüksek sıcaklık XRD çekimleri yapılabilmektedir. XRF, TG-DTA veya EDX-WDX sonuçlarından XRD analizinin yorumlanmasında faydalanılabilir.

Resimler